當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品展示 > 蘋果線材測試儀
LX-609蘋果數(shù)據(jù)線綜合測試儀
產(chǎn)品說明
品說明產(chǎn)品名稱:LX-609蘋果數(shù)據(jù)線綜合測試儀 產(chǎn)品型號:LX-609
【簡介】
手機(jī)已成為最為流行的電子產(chǎn)品,各種外圍產(chǎn)品也幸運(yùn)而生,本公司立志為廣大外設(shè)廠家服務(wù),適時推出相應(yīng)的檢測設(shè)備,為您提高生產(chǎn)效率,為您的品質(zhì)保駕護(hù)航。本產(chǎn)品為一款多功能的手機(jī)充電器檢測儀器,適用于研發(fā)和批量生產(chǎn)環(huán)節(jié)。
【功能特點(diǎn)】
※ 采用32位ARM高速處理器設(shè)計。
※ 支持iPhone6,iPhone5,iPad4,iPad mini,iPod nano6數(shù)據(jù)線、充電線。
※ 支持iOS6,iOS7,iOS8操作系統(tǒng),支持MFI認(rèn)證原裝數(shù)據(jù)線和山寨高仿數(shù)據(jù)線、C10B、C48方案等。
※ 雙面測試,插一次即可全部測完,提高效率。
※ 負(fù)載電流可以設(shè)定0-3A,可以設(shè)為2.4A實測iPad數(shù)據(jù)線,充分保證線材指標(biāo)。
※ 準(zhǔn)確測出D+、D-電阻,可以檢測出D+、D-內(nèi)置的匹配電阻大小并作出判斷。
※ 可測出D+、D-漏電阻,并根據(jù)設(shè)定范圍判定結(jié)果,漏電阻過小會影響數(shù)據(jù)通信和充電速度。
※ 由于USB座使用率很高,容易損壞,所以USB座采用分體設(shè)計,方便更換。
※ 可測試出具體故障點(diǎn),以便技術(shù)人員對線進(jìn)行檢修。
※ 各種保護(hù)措施避免儀器使用過程中受到損壞,防靜電保護(hù),防短路保護(hù),直接短路USB電源也不會損壞。
※ 插入被測產(chǎn)品自動開始測試。
※ LCD中文顯示屏。
※ 同時有聲音和LED指示測試結(jié)果。
※ 設(shè)置的測試參可掉電保存。
※ 可以連接電腦,有PC軟件,實現(xiàn)更多功能,也可單獨(dú)使用。
※ 通過PC軟件對蘋果協(xié)議數(shù)據(jù)抓取。
※ 可以在線升級,使儀器隨時擁最新的功能,如果儀器有問題,可使用在線升級經(jīng)松解決,不必返廠。
【檢測項目】
檢測項目 |
檢測內(nèi)容 |
蘋果數(shù)據(jù)線 |
蘋果充線 |
蘋果數(shù)據(jù)頭 |
蘋果充電頭 |
空載電壓 |
輸出電壓是否達(dá)標(biāo) |
√ |
√ |
√ |
|
輕負(fù)載電壓 |
輸出電壓是否達(dá)標(biāo) |
√ |
√ |
√ |
√ |
重負(fù)載電壓 |
輸出電壓是否達(dá)標(biāo) |
√ |
√ |
√ |
√ |
D+ |
連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 |
√ |
√ |
√ |
√ |
D- |
連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 |
√ |
√ |
√ |
√ |
屏蔽線 |
懸空、接VCC、接GND、直通 |
√ |
√ |
√ |
√ |
認(rèn)證芯片 |
通信、認(rèn)證、版本、序列號 |
√ |
√ |
√ |
√ |
MOS管 |
是否可正??刂啤㈤_路、短路 |
√ |
√ |
|
|
待機(jī)電壓 |
待機(jī)電壓是否正常 |
√ |
√ |
|
|
接線位置 |
A位置,B位置 |
√ |
√ |
√ |
√ |
注意:
1、 本儀器只對上面所列項目進(jìn)行測試,用戶在使用過程中可能因參數(shù)設(shè)置不同而產(chǎn)生不一樣的結(jié)果,比如設(shè)置重負(fù)載電壓大于4.5V合格,如果重負(fù)載電壓為4.4V將判為不合格,但該充電器在真機(jī)上可能正常使用。
2、 由于線材分布參數(shù)、阻抗等因素影響,造成數(shù)據(jù)線在真機(jī)使用時通信速率變慢,或完全不能通信,本儀器并沒有模擬真機(jī)數(shù)據(jù)通信進(jìn)行測試(估計也沒有儀器能做到這一點(diǎn)),所以不能檢出這種問題。
3、 本儀器只對充電器/數(shù)據(jù)線內(nèi)置芯片做部分協(xié)議的驗證,這是因為山寨芯片方案眾多,每種方案協(xié)議、序列號不盡相同,無法對其進(jìn)行完全驗證,所以本儀器不適合做研發(fā)使用,只適合工廠檢出芯片在焊接過程中造成的開路、短路等物理性的問題,芯片內(nèi)的程序一般在芯片出廠時已校驗。
4、 測試通過的充電器/數(shù)據(jù)線在使用過程中還可能因為使用環(huán)境條件惡劣而不能正常使用,比如有的芯片在低溫下無法工作。
綜上所述,本儀器不可完全替代真機(jī)測試,為了提高測試效率,我們認(rèn)為同一批材料的充電器/數(shù)據(jù)線特性是一致的,建議采用本儀器做基礎(chǔ)測試,再用真機(jī)抽檢。